形狀分析雷射顯微鏡

VK-X 系列

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形狀分析雷射顯微鏡 VK-X 系列

VK-X 系列 - 形狀分析雷射顯微鏡

奈米等級(jí)高精度量測(cè)，可掌握細(xì)微表面形狀差異進(jìn)行數(shù)值分析，支援各種材質(zhì)的剖面、粗糙度、厚度等量測(cè)。

產(chǎn)品特性

  • 50mm~1nm 高精度量測(cè)
  • 量測(cè)範(fàn)圍 超越以往的16倍
  • 量測(cè)時(shí)間 最快5秒

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VK-X3000 系列 - 形狀分析 雷射共軛焦 兼 白光干涉顯微鏡

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  • 三重掃描方式的壓倒性量測(cè)對(duì)應(yīng)力
  • 困難的膜厚、薄膜、厚度的高精度量測(cè)

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