尺寸 / 外徑量測(cè)

高速遠(yuǎn)心測(cè)量系統(tǒng)能夠即時(shí)捕捉移動(dòng)目標(biāo)的投影影像，無(wú)需停線(xiàn)，即可在多個(gè)位置進(jìn)行尺寸測(cè)量，大幅減少檢查處理時(shí)間。

高強(qiáng)度綠色 LED 光源、遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度 CMOS，使 TM-X5000 系列能夠從清晰的輪廓中精確測(cè)量尺寸，無(wú)需停止高速移動(dòng)的目標(biāo)。多樣化的測(cè)量工具可組合使用，支援多個(gè)測(cè)量點(diǎn)和多種檢查項(xiàng)目。可實(shí)現(xiàn) 100% 全檢，且不會(huì)影響處理時(shí)間，這是傳統(tǒng)光學(xué)比較儀等僅能離線(xiàn)測(cè)量尺寸的系統(tǒng)無(wú)法做到的。

傳統(tǒng)上，當(dāng)在線(xiàn)上使用遠(yuǎn)心測(cè)量系統(tǒng)時(shí)，移動(dòng)目標(biāo)未對(duì)準(zhǔn)會(huì)導(dǎo)致投影影像模糊或失焦。大景深消除了這一問(wèn)題，使這些系統(tǒng)能夠穩(wěn)定地捕捉清晰的邊緣影像，無(wú)需對(duì)目標(biāo)位置進(jìn)行大幅調(diào)整。

發(fā)射器和接收器均採(cǎi)用遠(yuǎn)心光學(xué)設(shè)計(jì)，使 TM-X5000 系列遠(yuǎn)心測(cè)量系統(tǒng)能夠捕捉真實(shí)的邊緣影像。即使目標(biāo)未對(duì)準(zhǔn)，也能以一致的精度和最大 ±15 mm（0.59"）的景深進(jìn)行影像捕捉。低失真鏡頭和我們的專(zhuān)有演算法，消除了對(duì)目標(biāo)位置調(diào)整和照明等因素校準(zhǔn)的需求。因此，可以在發(fā)生前消除因未對(duì)準(zhǔn)導(dǎo)致的測(cè)量誤差和良率下降。

使用外徑測(cè)量系統(tǒng)，可以對(duì)線(xiàn)狀、棒狀及帶狀目標(biāo)物（如電線(xiàn)、擠壓成型產(chǎn)品及薄片）進(jìn)行連續(xù)的線(xiàn)上尺寸測(cè)量。持續(xù)曝光可實(shí)現(xiàn)不中斷的測(cè)量，確保不會(huì)遺漏任何檢查或缺陷。

外徑測(cè)量系統(tǒng)可以進(jìn)行連續(xù)測(cè)量。為了消除漏檢和漏失缺陷，穩(wěn)定的測(cè)量是必須的。使用採(cǎi)用雷射掃描系統(tǒng)的穿透式光學(xué)測(cè)微計(jì)時(shí)，對(duì)於微小目標(biāo)物可能會(huì)發(fā)生漏檢，因?yàn)楫?dāng)目標(biāo)物離開(kāi)掃描線(xiàn)路徑時(shí)，變化無(wú)法被偵測(cè)到。為了解決這個(gè)問(wèn)題，LS-9000 系列和LS-7000 系列高速高精度數(shù)位測(cè)微計(jì)配備高強(qiáng)度綠色LED光源，並在曝光時(shí)間內(nèi)對(duì)整個(gè)視野進(jìn)行測(cè)量。這確保不會(huì)遺漏任何暫時(shí)性的數(shù)值變化或檢查，並實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量。

長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)運(yùn)行焊接機(jī)器人會(huì)導(dǎo)致電極尖端的輪廓（角度或彎曲）變形，進(jìn)而造成焊接失敗。在焊接機(jī)器人的工作區(qū)內(nèi)安裝TM-X5000 系列遠(yuǎn)心測(cè)量系統(tǒng)?？紤]到施加在電極尖端的負(fù)載，每連續(xù)焊接50次，增加一次讓電極尖端通過(guò)TM-X5000 系列透射光的動(dòng)作。即使目標(biāo)在移動(dòng)，TM-X5000 系列也能以無(wú)模糊影像測(cè)量輪廓，因此能準(zhǔn)確捕捉電極輪廓的變化，在最大程度減少對(duì)加工時(shí)間影響的同時(shí)，防止焊接失敗。除了焊接機(jī)器外，還可應(yīng)用於各類(lèi)機(jī)器人及自動(dòng)化設(shè)備工具的輪廓檢查。

噴油器由多個(gè)零件組成，因此檢查時(shí)需要在多個(gè)位置進(jìn)行外徑測(cè)量。一般的外徑測(cè)量系統(tǒng)安裝成本高，且需安裝多臺(tái)設(shè)備或移動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)來(lái)測(cè)量所有位置，導(dǎo)致檢查處理時(shí)間增加。此外，為確保測(cè)量系統(tǒng)的精度，還需維護(hù)移動(dòng)機(jī)構(gòu)，這需要耗費(fèi)時(shí)間和精力。遠(yuǎn)心測(cè)量系統(tǒng)可在視野範(fàn)圍內(nèi)瞬間測(cè)量多個(gè)位置的外徑，並可同時(shí)檢查多項(xiàng)目，如同軸度。

玻璃基板的對(duì)位需要高精度，傳統(tǒng)上僅能通過(guò)視覺(jué)系統(tǒng)來(lái)實(shí)現(xiàn)。然而，透明目標(biāo)的定位困難，為了在保持高精度的同時(shí)提升處理速度，往往需要複雜的預(yù)對(duì)位和校正。LS-9000 系列高速光學(xué)測(cè)微器除了具備雙階邊緣檢測(cè)閾值設(shè)定外，還提供透明目標(biāo)測(cè)量模式，即使在處理薄玻璃基板的邊緣輪廓時(shí)，也能以簡(jiǎn)單應(yīng)用實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測(cè)量與定位。

只需100微秒（0.1毫秒）的曝光時(shí)間，TM-X5000 系列遠(yuǎn)心測(cè)量系統(tǒng)即可在不停線(xiàn)的情況下，通過(guò)快速捕捉清晰的2D投影圖像，同時(shí)測(cè)量多達(dá)100個(gè)項(xiàng)目。系統(tǒng)提供超過(guò)100種工具可供選擇。這些工具可以組合使用，對(duì)複雜輪廓的外徑、寬度、高度和半徑進(jìn)行批量測(cè)量，例如，還可以從線(xiàn)上捕捉的投影圖像中，批量測(cè)量多個(gè)螺紋的節(jié)距、高度、角度等。

TM-X5000 系列遠(yuǎn)心測(cè)量系統(tǒng)提供直觀(guān)的操作方式來(lái)設(shè)置所需的測(cè)量項(xiàng)目：只需選擇圖標(biāo)，即可組合基本工具、元素工具、輔助工具、應(yīng)用工具和GD&T工具。在GD&T工具中，可以選擇以下項(xiàng)目，並與其他工具組合，用於線(xiàn)上檢查各種圖紙指示：

- 形狀公差:直線(xiàn)度與圓度
- 方向公差:垂直度與平行度
- 位置公差:同心度

支援線(xiàn)上檢查所需的各種測(cè)量，包括用於產(chǎn)品識(shí)別的主件比對(duì)，以及用於外觀(guān)檢查的異物距離測(cè)量。

LS-9000 系列高速光學(xué)測(cè)微器標(biāo)配空氣吹掃裝置，具備符合IP67標(biāo)準(zhǔn)的耐環(huán)境設(shè)計(jì)。對(duì)蒸氣、粉塵、油類(lèi)、霧氣、衝擊及溫度變化等污染具有高度耐受性，即使在嚴(yán)苛環(huán)境下也能穩(wěn)定進(jìn)行外徑測(cè)量。安裝於各種製程後，可持續(xù)進(jìn)行測(cè)量並保持恆定曝光，實(shí)現(xiàn)即時(shí)識(shí)別與迅速處理異常。由於可於製程中進(jìn)行測(cè)量，後段檢查時(shí)不再出現(xiàn)大量不良品，有效提升各種環(huán)境下的良率。

光學(xué)與雷射測(cè)微器以高精度著稱(chēng)；LS-9000 系列可檢測(cè)最小0.08 mm（80微米）的物體，精度達(dá)±2微米。大多數(shù)頂級(jí)光學(xué)與雷射測(cè)微器的精度通常在微米級(jí)，範(fàn)圍多為0.1微米至10微米。這種精度使光學(xué)與雷射測(cè)微器對(duì)於半導(dǎo)體製造、精密工程等需要精確測(cè)量的產(chǎn)業(yè)極具價(jià)值。

雖然這兩種系統(tǒng)都用於精密測(cè)量，但它們?cè)诓僮髟砗蛻?yīng)用上有根本性的不同。光學(xué)測(cè)微計(jì)使用雷射光源來(lái)測(cè)量特定物體。光線(xiàn)被導(dǎo)向被測(cè)物體，該物體的影子或輪廓會(huì)投射到光接收器上；影子的大小就是提供測(cè)量數(shù)據(jù)的依據(jù)。因此，光學(xué)和雷射測(cè)微計(jì)能夠提供快速且高度精確的測(cè)量。
另一方面，背光視覺(jué)系統(tǒng)依賴(lài)背光來(lái)照亮物體，從而產(chǎn)生清晰的輪廓。但與其用接收器收集數(shù)據(jù)並傳送處理不同，背光視覺(jué)系統(tǒng)中的輪廓是由相機(jī)捕捉，並通過(guò)軟體處理影像來(lái)進(jìn)行物體測(cè)量。不可否認(rèn)，這些系統(tǒng)非常適合測(cè)量複雜的二維尺寸或用於品質(zhì)控制，但與光學(xué)測(cè)微計(jì)相比，它們的速度明顯較慢且精度較低。

這兩種裝置都屬於雷射測(cè)量產(chǎn)品系列，但各自有其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。雷射測(cè)微計(jì)通常速度更快，因?yàn)樗鼈兡茉谝淮瓮ㄟ^(guò)或一次拍攝中測(cè)量整個(gè)物體的輪廓。這使其非常適合對(duì)速度要求極高的線(xiàn)上製程。另一方面，雷射掃描測(cè)微計(jì)依賴(lài)於移動(dòng)的雷射光束，該光束會(huì)移動(dòng)並掃描物體。這裡的優(yōu)勢(shì)在於，雷射掃描能夠提供極為詳細(xì)的輪廓測(cè)量，特別是在掃描複雜幾何形狀和精細(xì)表面時(shí)。然而，與線(xiàn)上雷射測(cè)微計(jì)相比，它們的速度明顯較慢，並且由於有移動(dòng)部件，需要定期維護(hù)和保養(yǎng)。

光學(xué)測(cè)微計(jì)具有極高的多功能性，能夠測(cè)量各種不同的物體。這包括圓柱形物體，如電線(xiàn)、棒材和管材，也包括透明和不透明的物體，如玻璃或金屬片。您還可以測(cè)量電子元件、半導(dǎo)體材料、光纖以及任何需要或必須採(cǎi)用非接觸式測(cè)量方法以防止工件損壞或污染的材料。然而，儘管光學(xué)測(cè)微計(jì)可測(cè)量的材料種類(lèi)繁多，您仍需確保被測(cè)物體的尺寸在測(cè)微計(jì)的測(cè)量範(fàn)圍內(nèi)。