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產(chǎn)品搜尋結(jié)果
只需放置樣品後按一鍵,就能全自動完成量測的雷射顯微鏡。從光學顯微鏡到SEM的觀察領域,1 臺包含觀察力、瞬間正確掃描各種形狀目標物的量測力、豐富的分析工具等。能因應各種觀察、量測、分析的需求。
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採用雷射共軛焦、白光干涉、Focus Variation 3種不同掃描原理的「三重掃描方式」。以高精度量測、分析各種目標物。實現(xiàn)最高解析度0.01 nm,奈米等級微小形狀變化也可正確量測。最大掃描區(qū)域50 mm平方,大的凹凸?手掌大小的目標物可完整掃描全貌與部分形狀皆可一臺掌握。對於鏡面體?透明體等難度高的材質(zhì),可高速、高精度、大範圍量測。高倍率/低倍率、平面/凹凸/表面粗糙度、鏡面/透明等目標物不受限的全新雷射顯微鏡。
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光學顯微鏡到 SEM 的領域 1 臺涵蓋
非接觸式瞬間掃描形狀
掌握真正想知道的表面的「差異」
可依樣本工件的材質(zhì)、形狀、量測範圍,選擇雷射共軛焦、白光干涉、Focus Variation 3種不同掃描原理,達到高精度量測。
形狀分析雷射顯微鏡
VK-X 系列
停產(chǎn)
彩色 3D 雷射掃描顯微鏡
VK-8700/9700 GenerationII 系列
雷射共軛焦、Focus Variation、 白光干涉 3 種不同掃描原理,可一臺使用??梢罉悠饭ぜ牟馁|(zhì)、形狀、量測範圍,選擇最佳的掃描方式,達到高精度量測。